德国布鲁克考古与艺术分析仪

Tracer 手持式XRF分析仪-手持式XRF，科研、教学、艺术、考古界的理想选择

欢迎使用创新型手持式XRF分析仪

由 于其独特的应用灵活性，布鲁克Tracer系列XRF(X射线荧光）分析仪已经成为艺术品和考古研究事实上的标准。Tracer系列也是科学研究和教学的 中意之选，用于对非均匀物质的研究以及培训新的X射线荧光分析领域的科学家。该系统即可用于实验室，也可用于野外现场，并可通过PC或PDA控制。
在艺术和考古学领域，Tracer广泛地适合于各种各样的应用，如确定具有文化价值对象的起源，或为地球化学调查获取元素信息 它通常是一件关键的工具，用于支持认证，建立物源等。

对于艺术品保存与修复，Tracer系列能够可靠、灵敏地确定元素成分，确保采取适当的处理方案，Tracer系列既可以找出类似匹配的颜料与其它物质，也可以检验之前所做的保存工作。

汞、砷以及铅等的氧化物，过去常被博物馆用于保护藏品，但是Tracer系列则可以对这些有毒重金属进行分析，确保按照NAGPRA1 的规定安全归还文物。

对于科研与教学，Tracer系列在激发参数方面拥有最大限度的灵活性和透明性，让学生可以亲身体会改变XRF激发参数将如何影响分析结果。
Tracer配有功能强大的桌面软件，可以快速实时显示光谱，您可即时深入了解被观察试样，因此，Tracer还是一款十分完善的教学工具。
此外，软件可对结果进行定制，可对是否存在某一特定元素做出基本检测，也可以进行全面分析，并向您提供浓度数据。
激 发条件完全可控，所获数据可以实时查看，结果分析软件功能强大，这些使得Tracer系列可用于研究各种各样的样品，从完全不均质的样品（譬如油画或特定 地质样品）到稀有金属或黑曜岩等均质样品。结果分为以下三类：定性结果、半定量结果以及完全定量结果，取决于被分析的样品与可用的校准曲线。

艺术与考古分析仪Tracer介绍
关于Tracer系列为何成为全球领先艺术品保护科学家的标准配置，原因有许多。我们对Tracer进行了以用户为导向的创新，使其即拥有台式的、实验室品质质检仪器的强大功能和应用的灵活性，又拥有手持式设备的便捷性，方便使用。
最出色的创新包括：我们与NASA合作研发的真空技术，此技术最初是为太空飞船计划而研发的；功能强大的笔记本式分析软件；实时光谱显示；以及自定义滤光片与二级靶材，其中，滤光片与二级靶材旨在优化分析，使其适合实验目标。
此技术还在许许多多客户公司大放异彩 如果您有要求，我们乐意提供这些案例，但请您为我们保密。

艺术与考古分析仪优点概述
具备台式仪器的功能，同时具有手持式分析仪的便利性
基于笔记本的分析软件，功能强大
自定义滤光片与二级靶材，优化分析 (Tracer III型)
实时谱线显示
一流技术设计，可检测镁、铝、硅、硫、磷以及氯等轻元素
专有XFlash SDD技术，增加计数率，提高分辨率（Tracer-SD 型）
与NASA联合研发的真空技术，令对轻元素的灵敏度达到极限
售后支持员工知识丰富、乐于帮助用户。

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