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当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。反射光谱干......
EC-770涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等)，以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高......
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体......
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)......
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InG......
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪，可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测......
EC-770N涂层测厚仪，能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头，利用涡流效应，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。C......
EC-770F涂层测厚仪，能测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等)。本仪表内置高精密探头，利用电磁感应原理，计算涂镀层厚度，并通过点......
Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布，评价薄膜厚度的均一性，可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：......
