能散型XRFM4 TORNADO PLUS布鲁克 X射线能谱仪EDXRF刑侦应用-德国布鲁克

布鲁克能散型XRFM4 TORNADO PLUS可用于测定枪击残留物 ，适用于枪击强留物、刑侦痕迹分析 项目。并且参考多项行业标准GSR标准。可应用于多个行业领域。

X射线荧光能谱仪（EDXRF）-M4 Tornado

元素检测

M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。

与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。

随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。

应用实例-萤石和方解石的区分

萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。

利用元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。

图：鉴别萤石与方解石 

左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels             

右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。

应用实例-电路板

由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。

图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图

左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。

右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元

M4 TORNADOPLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如创新性的孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。

更轻、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲可以大程度采样速度，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途