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M4 TORNADO地质样品元素分析
发布时间：
2015-04-03 13:58
来源：
铂悦仪器（上海）有限公司
| 样品： | 元素检测 | 项目： | 地质样品 |
| 参考： | 对比测量 |
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地质样品属于非均质样品，对地质样品的各种化合物经行分布分析对了解地质过程、勘探矿物资源以及其它应用具有重要意义。 微型X射线荧光（μ-XRF）非常适合上述用途。μ-XRF空间分辨率非常好，对低浓度元素非常灵敏。本报告对地质样品的化验进行了阐述，论述了不同测量参数对分析结果的影响。
