飞纳 Phenom 扫描电镜能谱版操作视频介绍，X 射线能谱探测器类型：硅漂移（SＤＤ）探测器类型，可实现微区定向分析，即点击感兴趣的部位，即可完成该点的元素定量定性分析。无液氮消耗，采用半导体 Peltier 效应制冷。

很大一部分样品由于其结构的限制，例如丝状、孔、多层结构等，需要观测者从某一特定的角度观测样品，才能够得到最佳的样品。这要求电镜具有灵活的操作方式。自动倾斜/旋转样品杯可以方便精确的对样品进行倾斜和旋转，满足样品观测要求

降低充电效应样品杯专为不导电样品设计，为用户免去了额外的预处理过程。各种不导电样品，如纸张、聚合物、有机材料、陶瓷、玻璃以及涂层等，均可借助降低充电效应样品杯，得到其原始形貌的图像。主要优点：将开始充电的放大倍数提高8倍左右无需喷金，可以简化不导电材料的制备过程，节省购置喷金设备的经费得到样品原始形

金相样品杯飞纳 Phenom 拥有远优于光学显微镜的高分辨率（14nm），并且克服了传统SEM价格昂贵、使用成本高、成像速度慢且操作复杂的缺点。飞纳 Phenom 可以快速检测各种常见工程合金（如 Al、Ti、Fe、Ni 等），在利用大景深得到丰富而细致的表面形貌信息的同时，图像对比度的变化还给出了

对于许多工程材料，其性质决定于其金属成分的组合、形貌特点及关键微观结构的分布特征。这些特征可以借助传统光学显微镜进行观察。而当需要高倍图像和 3-D 细节信息时，扫描电子显微镜（SEM）成为了必不可少的研究武器。

微型工具样品杯专为轴状样品设计飞纳 Phenom 是目前唯一能够在不进行切割的条件下，对轴状工具进行装载并观测的电子显微镜，免去了复杂耗时的制样过程。微型工具样品杯与Phenom台式扫描电子显微镜结合使用，让轻松获得微型工具的高放大倍数、大景深图像成为可能。适用于微型工具的制造，如钻头、端铣刀、刨刀

样品杯插件快速简便制备样品微型电子器件和 X 断面观测插件是为特定样品的快速制样所设计的，提高了样品观察速度。微型电子器件插件微型电子器件、太阳能电池及其它基片样品要求非破坏性的样品制样方法，使得观测完毕后样品可重新使用。通常在进行扫描电子显微镜观测时，样品粘附在铝制样品托上。观测完毕后，取下样品时

飞纳台式扫描电子显微镜高性价比标准版 Phenom PurePhenom Pure 放大倍数 30000 倍，分辨率优于 30nm，30 秒快速得到表面细节丰富的优质显微照片。是一款经济型的台式扫描电镜，可用于测量亚微米尺寸的样品。Phenom Pure 适用于传统大电镜待测样品的快速筛选