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安捷伦科技（中国）有限公司
麦奇克拜尔MAX X高精度气体和蒸汽吸附仪采用静态容量法与专利AFSM™技术，结合多路高精度压力传感器与全温控系统，确保卓越的测量精度与重复性。其支持多种气体和蒸汽吸附分析，比表面积下限低至0.0005m²/g，孔径分析...
基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪器配备了3个或4个样品测量通道，每个通道都具有独立的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，高效率的定量进气和实时测定样品的饱和蒸气压。
BELSORP MAX G是一款高性能容量法比表面和孔隙分析仪，在宽的压力范围内（P/P0=1 x 10-7~0.997,77K/N2，87K/Ar）对被测多孔材料进行吸附/脱附等温线分析，结合AFSM专利自由空间按校准，得到涵盖微孔，介孔孔径分布，比表面积和部分大孔的信息。仪器配备了2个工作站和一个饱和压力站，最多实现双站介孔比表面同时测定，单站微孔测定的功能。
Microtrac MRB的比表面和孔径测量产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。
基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪器配备了3个或4个样品测量通道，每个通道都具有独立的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，高效率的定量进气和实时测定样品的饱和蒸气压。
基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪器配备了3个或4个样品测量通道，每个通道都具有独立的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，高效率的定量进气和实时测定样品的饱和蒸气压。
基于BELSORP MINI II升级而来，是一款采用容量法测定样品比表面和孔径分布的分析仪，该仪器设计紧凑、分析精度高、重复性好、操作简便。仪器配备了3个或4个样品测量通道，每个通道都具有独立的压力传感器，这样能够保证样品测定的时候，高效率的定量进气和实时测定样品的饱和蒸气压。
结合高精度压力传感器(1000Torr，10Torr和0.1Torr)与硬密封气动阀和金属垫圈，分析仪具有先进的技术，很大限度地减少气体泄漏，并实现真空水平。 BELSORP MAX X使用先进的技术精细控制温度，从加热的歧管块(50°C，可选80°C)和空气浴到样品，同时电抛光气体/蒸汽管路 防止表面润湿和腐蚀。此外，启用全新的BELCONTROL操作系统。
结合高精度压力传感器(1000Torr，10Torr和0.1Torr)与硬密封气动阀和金属垫圈，分析仪具有先进的技术，很大限度地减少气体泄漏，并实现真空水平。 BELSORP MAX X使用先进的技术精细控制温度，从加热的歧管块(50°C，可选80°C)和空气浴到样品，同时电抛光气体/蒸汽管路 防止表面润湿和腐蚀。此外，启用全新的BELCONTROL操作系统。
结合高精度压力传感器(1000Torr，10Torr和0.1Torr)与硬密封气动阀和金属垫圈，分析仪具有先进的技术，很大限度地减少气体泄漏，并实现真空水平。 BELSORP MAX X使用先进的技术精细控制温度，从加热的歧管块(50°C，可选80°C)和空气浴到样品，同时电抛光气体/蒸汽管路 防止表面润湿和腐蚀。此外，启用全新的BELCONTROL操作系统。
Microtrac MRB的比表面和孔径测量产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。
Microtrac MRB的比表面和孔径测量产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。
Microtrac MRB的比表面和孔径测量产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。
Microtrac MRB的比表面和孔径测量产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值，BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析中心。我们为客户提供先进的技术，以不断获得可靠的结果。创新和质量是我们成功的基础。
BELSORP MAX G是一款高性能容量法比表面和孔隙分析仪，在宽的压力范围内（P/P0=1 x 10-7~0.997,77K/N2，87K/Ar）对被测多孔材料进行吸附/脱附等温线分析，结合AFSM专利自由空间按校准，得到涵盖微孔，介孔孔径分布，比表面积和部分大孔的信息。仪器配备了2个工作站和一个饱和压力站，最多实现双站介孔比表面同时测定，单站微孔测定的功能。
BELSORP MAX G是一款高性能容量法比表面和孔隙分析仪，在宽的压力范围内（P/P0=1 x 10-7~0.997,77K/N2，87K/Ar）对被测多孔材料进行吸附/脱附等温线分析，结合AFSM专利自由空间按校准，得到涵盖微孔，介孔孔径分布，比表面积和部分大孔的信息。仪器配备了2个工作站和一个饱和压力站，最多实现双站介孔比表面同时测定，单站微孔测定的功能。
BELSORP MAX G是一款高性能容量法比表面和孔隙分析仪，在宽的压力范围内（P/P0=1 x 10-7~0.997,77K/N2，87K/Ar）对被测多孔材料进行吸附/脱附等温线分析，结合AFSM专利自由空间按校准，得到涵盖微孔，介孔孔径分布，比表面积和部分大孔的信息。仪器配备了2个工作站和一个饱和压力站，最多实现双站介孔比表面同时测定，单站微孔测定的功能。
BELSORP MAX G是一款高性能容量法比表面和孔隙分析仪，在宽的压力范围内（P/P0=1 x 10-7~0.997,77K/N2，87K/Ar）对被测多孔材料进行吸附/脱附等温线分析，结合AFSM专利自由空间按校准，得到涵盖微孔，介孔孔径分布，比表面积和部分大孔的信息。仪器配备了2个工作站和一个饱和压力站，最多实现双站介孔比表面同时测定，单站微孔测定的功能。
