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仪器简介:快速,易于使用,基于光谱反射,为高性价比薄膜或涂层测厚分析系统 广泛应用于: 半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..) 液晶显示器(......
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产品简介: 标准模式 工业规格 适合科研中心 尺寸 500 x 610 x 640 mm 重量 ......