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基恩士（中国）有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | VK-X3000 |
| 品牌： | 基恩士 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 3731 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 仪器种类 | 超高速激光共聚焦显微成像系统 | 应用领域 | 材料领域 |
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KEYENCE 基恩士 形状测量激光显微系统全新 VK-X3000
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量
超越激光显微镜的限制，以三重扫描方式应对
一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
VK-X3000 系列形状测量激光显微系统
采用了三重扫描方式，运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的细微粗糙度，以及镜面体，透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力（从 1 nm 到 50 mm），纳米/微米/毫米一台完成测量。
产品特性
观察
从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
42 至 28800 倍
无需对焦
适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
不会损伤目标物
纳米级别也可准确测量
透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
定量化微小形状
轻松比较多个样品
粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题
可根据样品工件的材料、形状和测量范围，选择激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理，进行高精度测量。
最高分辨率0.01 nm
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外，如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。
连高度差较大的凹凸处和大范围区域也能测量
最大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备，即可同时掌握整体形状和局部形状。
精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
适用于各种目标物的测量能力
超越激光显微镜的限制，以三重扫描方式应对
一台即可测量纳米 / 微米 / 毫米
三重扫描方式
一台设备可使用激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉等三种不同的扫描原理。根据样品工件的材料、形状和测量范围选择适合的扫描方式，进行高精度测量。
一台即可了解希望获取的信息
292 种分析工具
测量软件不仅可以测量高度或尺寸，还能通过多样的分析工具按照用户的想法实现进一步的分析。
激光显微系统的基本特点
基恩士 形状测量激光显微镜 VK-X3000信息由基恩士（中国）有限公司为您提供，如您想了解更多关于基恩士 形状测量激光显微镜 VK-X3000报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
