技术指标 基本参数
探 测 器 145eV FWHM @ 5.9keV 外型尺寸 662 X 522 X 422 mm
稳 定 度 小于 0.05% 样品腔 424 X 323 X 155 mm
测量对象 固体、液体、粉末 输入电压 AC 220V /50HZ
测量时间 60-300s 功 耗 260W
元素范围 硫(S)-铀(U) 重 量 48Kg
检测下限 2ppm 工作温度 20-30℃
含量范围 2ppm-99.99% 工作湿度 40-70%
X光管压 1-50KV
X光管流 1-1000 μA
**测镀层 0-40 μm

电致冷高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。

精密稳定的高压电源：采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。

低功率X射线光管：采用W/Rh靶X射线管，静音高速风扇制冷，设计寿命5万小时。

高像素摄像头：内置高清摄像头以及电动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。

全方位的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。

超安全样品腔：采用独特的“山”字形设计样品腔与仪器接合，精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全zei佳平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。

智能准直器、滤光片切换系统：智能软件切换系统，确保准直器和滤光片精准自动切换，无需人工干预，减少人为操作造成的失误和错误结果。采用新型滤光片，有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。独特光学准直器，光束zei小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。

先进的光谱分析方法：紧跟国际zei前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法，zei大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于领先地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。

无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。

**镀层厚度分析：选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途