椭偏仪

SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。波长范围200-900nm。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。

集成的精确测量系统

SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，分辨率0.1nm，测量时间5-15秒，并且折射率测量可达0.005%。

配置说明

波长范围:	380-780 nm (标准) 或450-900 nm (可选)
光学分辨率:	4.0 nm FWHM
测量精度:	厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%
入射角:	70°
膜厚:	单透明膜1-5000 nm
光点尺寸:	2 mm x 4 mm (标准) 或 200 µm x 400 µm (可选)
采样时间:	3-15s (zei小)
动态记录:	3 seconds
机械公差 (height):	+/- 1.5 mm, 角度 +/- 1.0°
膜层数:	至多32层
参考:	不用

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途