散射式近场光学显微镜

NeaSNOM是市场唯一一款散射型扫描近场光学显微镜（简称s-SNOM），专利化的散射式核心设计技术，极大的提高了光学分辨率，并且不依赖于入射激光的波长，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。
NeaSNOM中嵌入了一些系列专利化的探测和发光模块，保证了NeaSNOM近场光学显微镜和谱图的可靠性和可重复性，成为纳米光学领域热点研究方向的 科研设备，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等方向得到许多重要科研成果。

NeaSNOM主要特点与独特技术优势

? 专利保护的散射式近场光学测量技术，独有的极高空间分辨率10nm 
? 基于高稳定性的AFM系统，同时优化了纳米尺度下光学测量
? 采用双光束设计，极高的光学接入角：水平放下180° & 垂直方向 60°  
? 专利保护的反射式光学系统，用于宽波长范围的光源：可应用于可见、红外和太赫兹光谱范围
? 专利保护的干涉式近场信号探测单元
         - 近场振幅和相位分辨测量功能
         - 单线测量模块，用于近场成像应用
         - 宽带探测模块，用于FTIR 吸收光谱研究

? 在保证极高的近场测量性能前提下，可选择 VIS 或 IR 激光选件  
? 在极高的分辨率下，研究有机或无机样品，整个操作仅需要常规的AFM样品准备过程

重要研究领域与应用

                   等离基元研究                                               石墨烯研究                                   纳米尺度(<20nm)FTIR研究

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途