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冠层分析仪NDVI 归一化植被指数(NDVI)测量仪

参考报价: 面议 型号: NDVI
品牌: METER 产地: 美洲
关注度: 暂无 信息完整度:
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?
NDVI测量仪可以长期进行近地面冠层归一化植被指数(NDVI)的定位监测。
NDVI对绿色植被的反应非常敏感,通常用于研究植被的生长状态。
NDVI测量仪传感器制作工艺精良,耐用耐用,在各种恶劣天气条件下都能正常工作;体积小巧,安装简单方便;性价比高,可以在多个地点布点使用。
工作原理:NDVI是通过将冠层对近红外波长(810nm)和红光波长(650nm)的反射率之差除以两者之和来计算的,因此需要同时安装向上和向下两个传感器来监测这两个波长的反射率。
向上的NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度,测量结果代表来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正,具有半球视场。安装时需要确保视场内只有天空,没有冠层和其他物体。NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度,测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在30°以内,这种限定能够使传感器准确朝向待测冠层。
产品特点:低耗电、高性价比、支持SDI-12通讯协议、自动测量、数据采集、校准信息保存在传感器内、环氧树脂密封工艺、防水、耐受恶劣天气、可在野外长期布设。若使用ZL6数据采集器,可以通过互联网终端实现远程数据查看和下载。
应用领域包括单株植物或群落冠层的归一化植被指数(NDVI)动态监测、植被返青、衰老和受胁迫状态的监测、冠层有效辐射截获量的监测、冠层生长物候的监测、冠层叶面积指数的监测、冠层生物量积累的监测。
技术参数:校准系数(灵敏度的倒数)逐个传感器校准,数据存储在固件内,校准不确定性±5%。红光检测器650nm±5nm,半峰宽(FWHM)65nm;NIR检测器810nm±5nm,半峰宽(FWHM)65nm;测量范围2倍全日照,测量重复性小于1%,长期漂移每年小于2%,响应时间小于0.6s;视场范围:向上180°,向下30°,响应为±2%@45°,±5%@75°,天顶角温度响应小于0.1%每℃,输出SDI-12,供电5.5~24VDC。外壳带有丙烯酸散射窗的阳极铝,IP防护等级为IP68。工作环境温度-40~70℃;相对湿度0~100%RH。尺寸:S2-411-SS(向上):直径30.5mm,高37mm;S2-412-SS(向下):直径30.5mm,高34.5m,重量(包含5米缆线)140g,缆线5米屏蔽双绞线;TPR护套和不锈钢接口。与数采(须另购)METER EM60系列,ZL6系列,ZSC,ProCheck,Campbell Scientific兼容。
订购指南:传感器有S2-411-SS向上半球视野传感器和S2-412-SS向下视场光阑传感器,还有PRI光化学反射指数传感器可选购。相关产品:SRS-PRI光化学反射指数测量仪。
产地与厂家:美国METER公司。

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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