铁电性能综合测试系统

本测试系统用于铁电体的铁电性能测量，可用于铁电体的研究，也可作为近代物理实验中的固体物理实验设备，同时可作为工业化生产铁电存储器的铁电性能检测设备。该铁电性能测量系统不仅能画出铁电薄膜的电滞回线，还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化Ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数，还可以进行铁电薄膜材料的铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。该系统配铁电高压模块和铁电高压驱动模块，可测量陶瓷材料的铁电性能。
仪器采用一体化设计，实现测试结果全数字化，操作简单方便。本测试系统采用虚地模式测量电路，与传统的Sawyer-Tower模式相比，此电路取消了外接电容，可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于仪器内部的器件精度，比较容易定标和校准，并且能实现较高的测量准确度。

1、测试用信号源：计算机控制的任意波形。
2、测量放大器：计算机控制，1、4.5、15、80倍。
3、样品容量测试范围：1pF~10nF。
4、测量分辨率：4千分之一。
5、电滞回线内的测量点数：4~1000点可设。
6、疲劳性能测量周期范围：1秒~1*105小时。
7、保持性能测试周期范围：1秒~1*105小时。
8、输出电压范围：±10 V(用于薄膜测量)
配备的高压驱动模块和高压模块可输出±2000 V(用于陶瓷材料测量)

1、电滞回线测量，可以画出电滞回线及得到铁电材料的饱和极化±Ps、剩余极化±Pr、矫顽场±Ec、
电容量C等参数。
2、铁电疲劳性能测量。
3、铁电保持性能测试。
4、电阻测量。
5、漏电流测量。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途