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薄膜厚度测量仪

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参考报价: 面议 型号: ST4000-DLX
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 33 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。



技术参数:

活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛(option)
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED
选项 Programmable Auto Z Stage
参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附带照明 12v 100W Halogen Lamp



主要特点:

尺寸 500 x 610 x 640 mm
重量 45Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 8", 12"
测量方法 无连接的
测量原理 反射计
特点

测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
Print Function of Each View & Data Saving

薄膜厚度测量仪信息由北京三尼阳光科技发展有限公司为您提供,如您想了解更多关于薄膜厚度测量仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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