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椭偏仪
氦氖(He-Ne)偏振激光器
 EL20-633He-Ne偏振激光器用于满足定量激光测量场合中对低噪声、高功率稳定性和长寿命的需求。    EL20-......
斯托克斯偏振态检测仪
        EPTX1斯托克斯偏振态检测仪(以下简称'偏振态检测仪')是针对单波长光波偏振态测量领域......
双通道偏振态检测仪
在光纤传感、光通信、光学测量等领域中,对多光路的偏振态监测是一项基本的应用。EPAD是满足研发、制造过程、工业过程检验需求的高精度双通道偏振态检测仪。EPAD偏......
偏振态检测仪
EPTS01是针对研发、制造过程、工业检验领域推出的高精度偏振态检测仪,仪器光谱范围覆盖紫外、可见、红外。EPTS01偏振态检测仪适用于自由空间传播的光波,以及......
手动椭圆偏振测厚仪
EX1手动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款手动教学仪器。EX1 仪器适用于纳米薄膜的厚度测......
自动椭圆偏振测厚仪
    EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)椭偏测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。 ......
自动椭圆偏振测厚仪
    EX3自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法(或称“零椭偏”)测量原理,针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。与EM22仪器......
在线椭偏测量系统(镀膜机专用)
    ETSys-InLine 是根据镀膜机在线高精度测量要求,专门研发的椭偏测量系统,在此系统中,椭偏测量部件与镀膜机集成为一体。&nb......
在线薄膜测量系统
    ETSys-Map-PV是针对高端薄膜太阳电池研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。  ......
在线薄膜测量系统
ETSys-Map是针对高端纳米薄膜研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。    ETSys-Map用于对......
精致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
EM12-PV是采用量拓科技先进的测量技术,针对中端精度需求的光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。EM12-PV用于测量绒面单晶硅或......
极致型多入射角激光椭偏仪(光伏专用)
EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反......
快速摄谱式
ES01-PV是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。ES01-PV用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(......
波长扫描式
ESS03是针对科研和工业环境中薄膜测量领域推出的波长扫描式高精度多入射角光谱椭偏仪,此系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见、近红外、到远红外。ESS03采用宽光谱......
波长扫描式
ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱......
快速摄谱式
ES05是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的固定入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围370-1000nm。ES05固定入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构......
快速摄谱式
ES03是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度多入射角光谱椭偏仪,仪器波长范围从紫外到近红外。ES03多入射角光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数......
快速摄谱式
ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层......
多入射角激光椭偏仪
纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪,用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳......
精致型多入射角激光椭偏仪
EM12是采用量拓科技先进的测量技术,针对中端精度需求的研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12可在单入射角度或多入射角度下对样品......
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