bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-200

ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界先进的操作和分析软件Vision64。新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

优质的测量与分析功能

·易于使用的界面，可快速准确地获得结果

·自动化功能用于日常测量和分析

·广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

·满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

先进计量设备

·基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。

·通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

·ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。

高性能表面计量 

·放大倍率无关的业界好Z轴分辨率

·大尺寸的标准视场

·稳定集成防震设计

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途