电子元器件失效分析

电⼦元器件失效分析              

服务范围

电子元件、分立器件、机电类器件、线缆及接插件、微处理器、可编程逻辑器件、存储器、AD/DA、总线接⼝类、通用数字电路、模拟开关、模拟器件、微波器件、电源类等。

检测标准

●GJB33A-1997半导体分立器件总规范

●GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

●GJB450A装备可靠性工作通用要求

●GJB536B-2011电子元器件质量保证大纲

●GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

●GJB597A-1996半导体集成电路总规范

●GJB841故障报告、分析和纠正系统

●QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求

检测项目

●形貌分析：体视显微镜、⾦相显微镜、X 射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束；

●成分检测：X 射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱；

●电分析：I-V曲线、半导体参数、LCR 参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性；

●开封制样：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片、IC 取芯片、芯片去层、衬底检查、扫描电镜检查、DB FIB；

●缺陷定位：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH、 PN 结染⾊、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测。

相关资质

CNAS

服务背景

对发生故障的产品进行失效归零，是不断迭代提升产品质量的关键，对故障产品进行器件级和微观级的故障定位和原因分析，也是缩短产品研发周期，减少质量风险的重要途径。

我们的优势

广电计量深耕装备电子元器件失效分析与故障归零，集聚一大批电子元器件失效分析专业人员，积累了大量的失效分析经验，为电子元器件及电气零部件提供专业化的失效分析。

电子元器件失效分析信息由广州广电计量检测股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于电子元器件失效分析报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途