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安捷伦科技（中国）有限公司
| 产地类别：进口 | 供应商性质：总代理 | 产地类别：进口 |
| 供应商性质：总代理 | 价格范围：10万-20万 | 仪器种类：台式/落地式能散型XRF |
| 行业专用类型：通用 | 价格范围：10万-30万 |
应用领域:
iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量分析、金属电镀镀层分析、电镀膜厚分析等镀层领域
技术指标：
多镀层，1～5层
测试精度：0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间：10~30秒
SDD探测器，能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射线管50KV/1mA，钼、钨、铑靶
6个准直器及多个滤光片自动切换
XYZ三维移动平台，zei大荷载为5公斤
高清CCD摄像头，准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸 620×612×525 mm
平台移动范围 110(X)x110(Y)x5mm
图谱界面：
软件支持无标样分析
超大分析平台
可自动连续多点分析
集成了镀层分析界面和合金成分分析界面
采用多种光谱拟合分析处理技术
分析报告结果
直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式
样品分析图谱：
测试结果界面：
韩国ISP iEDX-150WT镀层测厚仪由深圳市善时仪器有限公司 为您提供，如您想了解更多关于韩国ISP iEDX-150WT镀层测厚仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途。
| 采购单位 | 行业 | 采购时间 |
|---|---|---|
| 苏州市吴通电子有限公司 | 电子/电器/半导体 | 2017-06-27 |
| 大连吉星电子股份有限公司 | 电子/电器/半导体 | 2017-03-09 |
| 记忆科技/联想集合联合实验室 | 电子/电器/半导体 | 2017-02-17 |
