X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x射线光谱仪。它们是从已广受认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型系列仪器上发展而来的。与上一代相类似，它们尤其适合无损测量薄镀层厚度及材料分析，同时还能测量大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层厚度，进行镀液成分分析等。

    比例接收器能产生高计数率，从而使得高精度测量成为可能。由于使用了Fischer基本参数法，无论是固体的镀层系统还是液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。zei多可同时测量从氯（17）到铀（92）中的24种元素。

    XDL型X射线光谱仪有着出色的长期稳定性，如此一来，就能大幅减少校准仪器所需花费的精力。XDL系列仪器特别适用于质量控制、来料检验以及生产线监控中的测量需要。

       典型的应用领域有：

• 测量大规模生产电镀零部件
• 薄镀层检验，如装饰性铬镀层
• 分析电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量，如印刷线路板中各个测量点的连续自动测量
• 电镀工业中的电镀液成分分析

   有全系列的X-射线供应。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途