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北京欧屹科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | SE-101、102、110 |
| 品牌： | PHOTONIC LATTICE | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 34 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 区域代理 | 产地类别 | 进口 |
| 价格范围 | 50万-80万 |
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膜厚测试仪
椭偏仪
应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。
根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。
PHL紧凑型桌面式椭偏仪 SE-101
型号 | SE-101 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 0.05秒/测量点 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 1mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 4英寸, |
仪器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
凑型桌面式椭偏仪 SE-102
型号 | SE-102 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 0.05秒/测量点 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 1mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 4英寸,1轴自动，2轴手动 |
仪器尺寸和重量 | 300x235x218.3mm/4kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
快速映射椭偏仪 ME-110
型号 | ME-110 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
型号 | ME-110 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.0055-0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
允许厚度分布的测量，例如，透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板
型号 | ME-110-T |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
高速，高解析度的表面分布测量
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101信息由北京欧屹科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
