半导体检测仪CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

CAMTEK 自动光学检验AOI设备在碳化硅(SiC)领域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料，具有独特的电学性能和优异的热性能。与硅片和砷化镓晶片相比，碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。

Camtek开发专用的检验和计量解决方案，以及分析工具来解决这一新兴市场。

功能：
• 处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
• 背光查克的早期阶段的过程
• 朋友处理透明的晶片
• eef——边缘控制能力
• 自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
• 弓测量
• 预测收益率-晶圆缺陷位置精度<2um

技术：
• sts-表面形貌传感器
• 背光 产品EagleT-AP为先进的包装设计市场，EagleT-AP提供了2d和3d检验和计量在同一平台上，同时保持极高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i设计的速度和准确性，CamtekEagleT-i是一个zui快的和zui精确的2d检查工具在市场上。

咨询：18263262536（微信同号）

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