半导体检测仪CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-out

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 Fan-outCamtek 组合了先进的校准和诉讼机制，以及专用的检验和计量能力，来解决 Fan-out 过程中的挑战。我们的系统支持表面检验能力，以及在死层之间结合位置对齐数据的独特计量信息。系统生成各种报告，提高产量并增加产量。功能
•RDL 检查和计量
•检查多层晶片
•多种光学设置所有步骤和缺陷类型
•3D 高度和 co-planarity 测量
•死位置测量技术
•Camtek 独特的白光三角测量传感器
•先进的缺陷检测和计量处理引擎
•高分辨率三维共焦传感器
•光干涉测量技术对3D 产品
Eagle-APEagle-AP 提供了在同一平台上的 2D 和 3D 检验和计量，同时保持极高的性能和吞吐量水平。  
Eagle-izui 先进的 2D 表面缺陷检验和计量系统，实现高容量生产前 2D 检查和 post-bumped 晶片，探针标记检查，OQC 等等。  
EagleT-AP 为先进的包装设计市场，提供了在同一平台上的 2D 和 3D 检验和计量，同时保持极高的性能和吞吐量水平。  
EagleT-i 设计的速度和准确性，Camtek EagleT-i 是市场上最快和最精确的 2D 检查工具。咨询：18263262536（微信同号）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途