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参考报价: | 面议 | 型号: | LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer) |
品牌: | 布鲁克 | 产地: | 匈牙利 |
关注度: | 1024 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
价格范围 | 10万-30万 |
光谱范围 | 1100到1700 |
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LE-103PV 激光型椭偏仪(Laser Ellipsometer)
主要应用
太阳能电池片减反射膜的厚度、折射率和消光系数测试 |
二氧化硅等介质膜的厚度、折射率和消光系数测试 |
透明材料的光度学测试 |
主要技术指标
激光波长: 632.8nm He-Ne激光器 |
测量时间: 100ms-2sec |
膜厚测量范围: 2nm-6000nm(基于SiO2) |
厚度测试精度: 0.01nm @120nm SiO2 on Si |
折射率测试精度:0.0005 @120nm SiO2 on Si |
产品特点
可测量减反射膜厚度、折射率和消光系数等光学特性 |
稳定、可自动校准的集成光路 |
优化设计的156mm多晶和单晶测试平台,方便用户转换单晶和多晶测量 |
自动变换入射角的设计提高了测试精度,并可实现表面特征雾度(Haze)的测试 |
采用旋转补偿器测量Psi(0~90°)和Delta(0~360°),可提供更高的测量灵敏度,同时可计算由粗糙表面引起的退偏系数 |
聚焦微光斑系统优化了反射信号的采集 |
可集成到在线测量系统,实现快速的在线监控 |
测试软件兼容PVECS |
LE-103PV激光型椭偏仪基于椭圆偏振测试技术,通过测试线偏振光经过样品反射后偏振态振幅和相位的改变,建立样品相应光学模型,计算出薄膜的厚度、折射率和消光系数。
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LE-103PV是Semilab针对光伏市场推出的一款低成本、高集成度的革新型产品,主要应用于测试具有绒面结构的晶体硅减反射膜的厚度和光学特性。测试软件操作简单、界面友好、所使用的光学模型与Semilab全光谱椭偏仪丰富的数据库相兼容,方便用户根据实际测试需求建立专ye的测试菜单。 |
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途