产品简介
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
产品特性
采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高
测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受环境光的影响
测量简单，样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大：为27mm
主要技术参数
扫描范围：50×50（mm）
扫描步长：0.1μm
扫描速度：20mm/s
Z方向测量范围：27mm
Z方向测量分辨率：2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途