1.设备名称:霍尔效应测试仪2.功能描述:测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数:3-1测试范围:Si, SiGe,......
HERA-DLTS高能分辨率深能级瞬态谱(DLTS) PhysTech在1990年推出了第一台数字DLTS,随着电脑技术的发展,使得在......
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