膜厚测量仪

通过薄膜表面与基底材料反射光的干涉现象，可快速可靠地测量半透明及透明膜的厚度。非接触式测量，不会破坏测试样品。 

NanoCalc测试系统主要包括：宽带光源、高性能线阵CCD光谱仪、传输光纤、样品测试台及测量分析软件。NanoCalc膜厚测量仪适合于在线膜厚测量，包括氧化层、氮化硅薄膜，感光胶片及其它类型的薄膜，NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷等物质上的抗反射涂层、抗膜涂层。

NanoCalc膜厚仪基本性能：

●基本型号：NanoCalc-UV/VIS/NIR & NanoCalc-UV/VIS & NanoCalc-VIS/NIR

●光谱范围：250~1100nm(UV/VIS/NIR) & 900-1700nm(512-NIR)

●膜厚分辨率：0.1nm

●测量时间：100ms~1s

●多达10层膜厚测量

●快速响应：在线测量

●基底材料：钢/铝/铜/陶瓷/塑料等

●新型号：NanoCalc-MIK中整合摄影机

●材料库： 400种材料的n和k值且可添加

●应用场合：氧化物/SiNx/感光保护膜/半导体膜

NanoCalc膜厚仪应用软件
◆膜厚测量/n&k值测量
◆用户自定义材料层结构
◆自动调整积分时间
◆层材料信息分层显示

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途