X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括......

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X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。主要技术参数:  ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动......

X射线残余应力分析仪主要技术参数: 采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。  ★测量方法：侧倾固......

X射线残余应力分析仪主要技术参数: 线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。  ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。......

X射线残余应力分析仪主要技术参数: 采用线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。  ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测......

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