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深圳市蓝星宇电子科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | JSX-1000S |
| 品牌： | 日本电子 | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 5 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 总代理 | 产地类别 | 进口 |
400-6699-117转1000
日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S
JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法?检量线法）、RoHS元素筛选功能等。 利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
产品规格
FIB
| 检测元素范围 | Mg～U |
|---|---|
| F～U（选配） | |
| X射线发生装置 | 5～50 kV , 1mA |
| 靶材 | Rh |
| 一次滤波器 最多9种 自动交换 | 标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
| 选配：Cl, Cu, Mo, Sb | |
| 准直器3种 自动交换 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| 检测器 | 硅漂移检测器（SDD） |
| 样品室尺寸 | 300mmφ×80mmH |
| 样品室气氛 | 大气 / 真空(选配） |
| 样品室观察机构 | 彩色摄像机 |
| 操作用电脑 | Windows ® 触控屏 台式电脑 |
| 分析软件（标准） | 定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索） 定量分析（块状FP法、检量线法） RoHS分析解决方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 简易分析解决方案 报告制作软件 |
| 分析软件（选配） | 薄膜FP法分析软件 关联滤波器FP法分析软件 |
| 日常检查软件（标准） | 管球升压、能量校正、强度校正 |
Windows ® 为美国微软公司在美国或其它国家的注册商标或商标。
主要附件
样品室真空排气单元
多样品自动交换单元
滤波器组
滤膜FP 法分析软件
薄膜FP 法分析软件
和峰消除软件
镍镀层筛选解决方案
锡镀层筛选解决方案
氯元素筛选解决方案
产品特点：
· JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为TEM成像制备薄膜样品，为观察样品内部制备截面样品。通过与SEM像比较，SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异，这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。
· 高性能FIB镜筒
· JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，最大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制备100 μｍ以上用来观察的截面非常轻松。
· 用户友好的FIB装置
· JIB-4000高性能的 FIB镜筒具有出色的可操作性。用户友好的外观和GUI设计，建立了使用方便的FIB系统。即使不是FIB专家也能够轻松操作，此外，该装置小巧紧凑为业界最小体积，安装地点的选择范围很大。
· 双样品台
· JIB-4000标配的块状样品马达驱动样品台可供块状样品使用，此外还可以增配侧插式测角台（TEM用Tip-on 样品架可以直接插入）。块状样品马达驱动样品台能观察整个表面为20 mm x 20 mm的块状样品，样品交换可以通过气锁式系统快速进行。侧插式测角台与JEOL的TEM系统使用的相同，因此Tip-on （尖端上可以安装附件的）样品架与JEOL的TEM系统可以通用，这样，FIB加工和TEM观察的反复交替就能很容易地进行。
· 丰富的附件
· 有各种附件可用来支持JIB-4000的操作。包括对电路修改应用特别有效的CAD导航系统，对特殊形状加工有效的矢量扫描系统等。通过给JIB-4000安装适当的附件，该系统可以支持样品制备以外的应用。
日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S信息由深圳市蓝星宇电子科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于日本JEOL X射线荧光光谱仪JSX-1000S报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
