原子力测量显微镜AFM是利用测量探针与样品之间的作用力，进行纳米级的zei高精度扫描分析。除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。FRT不同型号的配置提供从几个微米到600毫米的测量范围。扫描范围从20um×20um到80um×80um。

应用范围：
1.表面和材料科学
2.半导体测量
3.生物分析
4.失效分析

原子力显微镜工作模式：接触式；非接触式；磁力/静电力式；侧向力；液体
扫描范围X,Y: 20X20um；40X40um；80X80um
扫描范围Z：2um-6um
垂直分辨率：0.01nm
X,Y分辨率：0.1nm
图片链接： http://oecsh.cn/oecsh/2010-06-02/1275469392d358.html  

高分辨率光纤干涉测量
快速测量分析
适合于液体测量

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途