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参考报价: | 面议 | 型号: | Prisma E SEM |
品牌: | 赛默飞 | 产地: | 荷兰 |
关注度: | 6 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 | |
供应商性质 | 生产商 | 产地类别 | 进口 |
仪器种类 | 钨灯丝 | 价格范围 | 30万-50万 |
二次电子图象分辨率 | 3.0 nm @ 30 kV (SE) | 放大倍数 | 200 V - 30 kV |
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学术和工业研究实验室希望现代SEM能够从最广泛的样品中获得大量数据,并获得出色的图像质量。由于大多数实验室都是多用户设施,确保所有经验级别的操作者都可以访问所有数据,易用性至关重要。Prisma E SEM 的三种真空模式(高真空、低真空和 ESEM™)使得系统极具灵活性,可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型,包括放气的、未镀导电膜的或者是与真空状态不相容的样品。多种检测器选项(定向背散射探测器、STEM、阴极荧光探测器等)提供了所有必要的样品信息。探测器信号同步采集和显示,可以在最短的时间内提供答案。此外,ESEM可以提供真实环境条件对样品进行原位研究,例如在湿润、高温、潮湿或反应性环境中的样品观察。Prisma E SEM 还包括一系列软件集成的原位实验台,用于执行和控制动态实验。
Prisma E SEM 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求,它同时支持相对的双能谱(EDS)探测器用于增强信号并去除阴影效应;此外,支持共面的能谱(EDS)/电子背散射衍射(EBSD)和平行束波谱(WDS)探测器以确保各个探测器获得最佳的采集位置。 得益于Prisma E SEM 强大的原位功能,对于绝缘样品或者需要高温条件的实验都能获得更加可靠的分析结果。
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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途