JH-Ⅵ-4介电常数测试仪 是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷制品的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T5594.4-1985。

JH-Ⅵ-4介电常数测试仪 主要技术指标：

1．频率范围及刻度误差

范围：50KHz~50MHz共分七个波段，允许误差：+2%

1.1：50~150KHz；

1.2：150~450KHz

1.3：450~1500KHz；

1.4：1.5~4.5MHz+

1.5：4.5~12MHz；

1.6：12~25MHz

1.7：25~50MHz；

2．Q值测量范围及误差

范围：5~500

误差：1）当频率从5~25KHz

         量程5~50 +5%

         量程15~150 +5%

         量程50~500 +7%

2）当频率从25~50MHz，所有量程均为+10%

3）△Q范围：-25 ~ 0 ~ +25。

3．电感测量范围及误差

范围：0.1μH~100mH

误差：+5%+0.01μH

4．试样尺寸

圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时）

Φ25~35mm（ε=12~30时）

Φ15~20mm（ε>30时）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途