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| 参考报价： | 面议 | 型号： | V-7000 |
| 品牌： | 日本分光（亚洲） | 产地： | 日本 |
| 关注度： | 85 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 价格范围 | 10万-15万 | 自动程度 | 自动波长 |
| 波长范围 | 紫外可见近红外 | 接收器类 | 光电倍增管（PMT） |
| 仪器结构 | 双光束 |
| 光谱带宽 | 0.049nm以下 | 杂散光(S.L.) | 0.00007%以下 |
| 自动程度 | 自动波长 | 接收器类 | 光电倍增管（PMT） |
| 波长准确度 | ±0.08nm | 波长范围（nm） | 185～3300nm |
| 覆盖波段 | 紫外可见近红外 | 仪器结构 | 双光束 |
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▼概要
V-7000系列能研究看不见的世界最高端紫外可见近赤外分光光度計。
采用双单色器,把光学系统和电气系统相结合,实现世界最高级的性能,强有力地支撑光学材料以及光设备的分光特性评价和薄膜的膜厚测量。
根据用途有3种型号可以选择。 V-7100,紫外可视区域专用的型号,V-7200采用在近赤外検出器PbS光导电元件,测量范围可至3300nm的广波长型号,V-7300是在近赤外検出器采用InGaAs光电二极管的近赤外領域高信噪比型号。
▼特征
?双单色器的高端型号
?根据测量波长范围和灵敏度不同有3种型号供选择
?实现世界一流的测量范围+/-8.0Abs
?采用超低杂散光设计
?实现波长分解0.049nm的高分辨率(紫外可视区域)
?采用日本分光的光分析装置软件JASCO光谱管理器可轻松实现由电脑控制
▼絶対反射率測定装置
能自动测量各种固体样品的偏角。适应半导体,薄膜,胶卷,光学元件,光设备的分光特殊性评价以及膜厚测量。
▼小型积分球
用于粉末样品,悬浮液,有凹凸的固体表面的漫反射测量。
◆规格
▼V-7100/7200/7300
型号 | 7100 | 7200 | 7300 |
光学系 | 立体配置Littrow型接口 双单色器双光束方式 | ||
光源 | 氘灯卤钨灯 水银光源（校正用） | ||
波长范围 | 185～900nm | 185～3300nm | 185～1800nm |
分辨率 | 0.049nm以下（UV/VIS） | 0.049nm以下（UV/VIS） | 0.049nm以下（UV/VIS） |
波長正確さ | ±0.08nm（190～800nm） | ±0.08nm（190～800nm） | ±0.08nm（190～800nm） |
测光范围 | +/－8.0Abs | ||
光源 | 高辉度陶瓷光源 | ||
测光精度 | 0.00028Abs（0.3Abs,UV/VIS）使用双光圈 | ||
基线稳定性 | 0.0002Abs/Hr以下 | ||
基线平坦性 | ±0.0012Abs（200～850nm） | ±0.0012Abs（200～3000nm） | ±0.0012Abs（200～1700nm） |
杂散光 | 0.00007%以下 220nm | 0.00007%以下220nm | 0.00007%以下220nm |
检测器 | 光电子増倍管 | 光电子増倍管 | 光电子増倍管 |
定量测定 | 1,2,3波长演算、检量线：一次、二次、三次式、比例、折线 | ||
测定光谱 | 测光方式：Abs,%T,%R 数据处理功能：检测波峰，波峰高度（比） | ||
测定时间变化 | 测光方式：Abs,%T,%R、数据处理功能：动力学、追迹、 | ||
测定固定波长 | 可最多同时测量8个波长 | ||
程序 | JASCO光谱管理器 | ||
表示 | 日本语 | ||
尺寸?重量 | 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg |
JASCO V-7000系列紫外可见近红外分光光度计信息由佳士科商贸有限公司为您提供，如您想了解更多关于JASCO V-7000系列紫外可见近红外分光光度计报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
