韩国NanoView公司在椭偏仪领域不断创新，拥有多项专利技术。多年来一直致力于高性能椭偏仪的研制与生产，其产品主要用于半导体、导体、介质和液体薄膜的厚度、光学特性、成分比例和表面粗糙度等测量和分析，也可用于半导体器件和FPD显示等领域。目前主要产品分光椭偏仪，以独特的设计和无需校准等多项先进专利技术，使得测试时间大大减少的同时极大地增加了测量精度。
zei新开发的多传感头的分光椭偏仪，用于半导体和显示器生产线的在线Mapping分析。


SE－MG 1000型变角光谱椭偏仪：
光谱范围 340－850nm，紫外可选（230－850nm），变角测角仪，可精密测量薄膜厚度、折射指数及其他性质 ，可进行多层膜模拟分析 ，数据分析：Del,Psi,n,k,d ，测量精度 1 Å

SE－MF 1000型固定入射角光谱椭偏仪：
采用专利的无需校准、无需标定技术和独特的无臂结构，USB接口和计算机连接，配合强大的控制分析软件和多通道检测器，测试速度快，10ms检测全光谱，是您实验室分析薄膜的极佳工具。可广泛应用于：测量薄膜/多层膜的厚度、表面粘污， 表面与界面粗糙度、反射率， 组成与空隙率、合金比例等。

Rubbins-1000型Mapping光谱椭偏仪：
新开发的世界第一台LCD rubbing检测系统，同时也是世界上第一套能检测rubbing膜和聚酰亚氨膜的设备，也可用于LCD面板和正在发展中的半透明膜和CD 测试。
主要特点：适用于厚膜和薄膜测试
         测试精度高
         响应速度快
         测量时间短
         旋转补偿技术
         无需旋转样品或测量头
         不但可用于研发还可用于生产线检测
         大吞吐量样品
         Rubbins不用旋转样品就可以测量任何代包括第7代和第8代的整个薄膜面板

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途