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J200飞秒激光剥蚀进样系统

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参考报价: 面议 型号: J200
品牌: Applied Spectra(ASI) 产地: 美国
关注度: 594 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
价格范围1-50万
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全消解,确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号,J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。

设备特点:

1、测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况;

2、同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态;

3、两个相机提供广角和放大的样品图像和广角图像呈现;

4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态;

5、系统能完成具有挑战性的化学分析工作;

6、确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号;

7、剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质。

J200飞秒激光剥蚀进样系统技术指标:


激光器工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器,343 nm和1030 nm,频率可调10KHz
能量控制连续可调光学衰减器,集成激光能量监测单元
激光光闸自动光闸保证激光能量稳定
激光脉冲能量(激光头输出)150μJ/脉冲 @ 343 nm* , 1mJ/脉冲 @ 1030 nm
激光光斑大小控制3-70微米,结合了自动光束扩展器和狭缝成像
光斑大小范围取决于不同设备的型号,可用户自定义光斑大小范围
自动X-Y轴100 mm X 100 mm 行程范围,分辨率0.2微米
自动Z轴35mm行程范围,Z轴可以实现样品自动高度调整,分辨率0.5微米
剥蚀点定位红色激光具有更好的信号精度,ASI的自动对焦技术
样品图像高分辨率的双CMOS镜头,用于高倍放大和大视野预览,支持光学变焦
样品成像光源泛光LED灯,同轴反射光和透明光源,正交十字光
气体控制双路数字流量控制器,可选第三个流量控制器(用于氮气或其他气体)
电控两向和三向阀,ASI专利气体控制单元
样品室Flex™ 样品室具有系列可更换的垫片,适合不同大小的样品
Vertex™样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力
可用户自定义样品固定装置,ASI专利LIBS测量兼容性
与ICP-MS通讯在J200和ICP-MS之间实现双向控制
LIBS检测器
 (仅适用于Tandem系统)
Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器
仪器软件Axiom LA系统操作软件,ASI专利的TruLIBS™发射光谱数据库(用于Tandem系统)
Clarity Femto数据处理软件(处理LA-ICP-MS和LIBS的数据,进行定量计算/物质分类)
激光安全等级一级激光产品,样品加载区域有光学安全隔离板,激光自锁保护装置
系统尺寸70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机)
75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器)
重量600 lbs [272Kg](仅LA主机);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)
供电要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A
质保所有硬件和软件质保一年,飞秒激光器质保两年
认证CE认证
可选项LA升级为Tandem系统
延保可签署多年质保和服务协议


J200飞秒激光剥蚀进样系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,运输效率高,该设备功能直观、带图形界面,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式,用户简单、方便地操作硬件部件,只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态,不同用户组可赋予不同的使用权限,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态,防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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