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CAMECA二次离子质谱仪QUAD4550高深度分辨率超低能量四极杆SIMS
半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析
CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。
型号:SIMS 4550
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CAMECA 三维原子探针 Leap 5000
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