赛默飞电子显微镜(原FEI)
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  • 电子通道衬度成像(ECCI)原理及在晶体缺陷分析中的应用 发布时间:2023-09-11 15:09
  • 晶体是大量结构单元(原子或者分子)在空间规则周期排列形成的,当原子或者分子堆砌出现错误时,便会形成缺陷,按照缺陷引起的畸变的维度大小,可分为点缺陷、线缺陷、面缺陷和体缺陷(位错,层错,晶界等),缺陷的类型、数量、晶粒间的取向关系等与材料的宏观性能密切相关。通常研究人员使用透射电子显微镜(TEM)观察...... [全文]
  • 赛默飞透射电镜助力超导理论研究 发布时间:2023-03-08 12:57
  • 2023年2月22日,清华大学朱静院士团队联合复旦大学车仁超教授和北京大学李源副教授在《自然》杂志上发表了题为” Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor” [1] 的文章。该研究工作采用赛...... [全文]
  • 冷冻电镜(Cryo-EM)基础知识 发布时间:2021-02-19 17:04
  • 什么是冷冻电镜(Cryo-EM)?冷冻电子显微镜通常是一种透射电镜(TEM),且专门具备维持样品室内低温的能力。与传统透射电镜相比,冷冻电镜(Cryo-EM)还具有一套自动化和样品处理技术,增加了易用性,并确保每个样品都能收集到最多的高质量数据。冷冻电镜(cryo-EM)样品在Krios冷冻电镜中可...... [全文]
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