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北京优纳珂科技有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | PILATUS3 R CdTe |
| 品牌： | DECTRIS | 产地： | 瑞士 |
| 关注度： | 209 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 |
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产品详情：
1、产品特点：
DECTRIS PILATUS3 R CdTe系列结合了无噪声单光子计数的优点和在大型碲化镉（CdTe）传感器中直接检测硬X射线的优点。
与闪烁体的检测器相比，混合像素中的直接检测产生更锐利的信号和更好的空间分辨率。 CdTe为Mo，Ag和In辐射提供接近100％的吸收效率。结合无噪声单光子计数，这将实验室中的X射线检测带入了一个新的灵敏度和准确度水平。
实验室中的X射线源，尤其是硬X射线的X射线源比同步加速器弱得多，因此需要较长的曝光时间并导致较弱的信号，由于没有暗电流和读出噪音，PILATUS3 R探测器超过了实验室的所有其他技术。单光子计数不含所有其他噪声源以及CMOS电容检测器内置的不准确性，例如复位噪声和非线性电荷响应。相反，由DECTRIS Instant Retrigger Technology提供了较快的计数能力，结合精确的计数率校正提供宽泛的线性范围，完全兼容所有实验室应用和先进的X射线源。
具有挑战性的实验室应用（如电荷密度研究和配对分布函数分析）依靠硬辐射和具有出色信噪比的数据，DECTRIS PILATUS3 R CdTe探测器系列提供了高效直接探测和无噪声单光子计数的组合，并且是实验室中这些要求的更高匹配。
2、核心优势
- Mo，Ag和In量子效率> 90％
- 直接检测清晰的空间分辨率
- 没有读出噪音，也没有黑暗信号达到较高精度
- 高动态范围
- 荧光背景抑制
- 计数率
- 同步辐射级别的辐射硬度
- 免维护运行
- 高可靠性：没有容易发生故障的密封，无需冷却至室温以下
3、应用领域
- 电荷密度分析
- 对分布函数（PDF）分析
- 高分辨率化学结晶学
- 高压/高温XRD
- 关键尺寸SAXS
- 计算机断层扫描（CT）
- 无损检测（NDT）
技术参数：
PILATUS3 R CdTe | 1M | 300K | 300K-W | 100K |
探测器模块数量 | 2 × 5 | 1 × 3 | 3 × 1 | 1 × 1 |
有效面积：宽×高 [mm²] | 168.7 x 179.4 | 83.8 × 106.5 | 253.7 x 33.5 | 83.8 x 33.5 |
像素大小 [μm²] | 172 x 172 | |||
总像素数量 | 981 x 1043 | 487 × 619 | 1475 × 195 | 487 x 195 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） *每个模块之间水平间隙增加1个像素 | 7* / 17 | - */ 17 | 7* / - | -* / - |
非灵敏区 [ % ] | 7.8 | 5.7 | 1.1 | 0.2 |
缺陷像素 | < 0.1% | |||
最大帧频 [Hz] | 5 | 20 | 20 | 20 |
读出时间 [ms] | 注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
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