拥有专利技术的广角几何（WAG）,400W X光管，60 kV发生器，8个二次靶，8款滤光片，高分辨率硅漂移探测器完全满足轻元素检测的要求。X-7600SDD LE的问世使得元素周期表中所有元素的检测都能得到zei佳结果。
X-7600SDD LE 在带有二次靶技术的能量色散型X射线荧光分析仪领域中，引进专利技术，重新定义了“zei先进”的概念。 它为分析调查和开发应用提供了高性能的解决方案，同时，为商业实验室分析提供了一种低成本、高效益的选择。
以高精度、sub-ppm检测精度为特色，在环保、地质和贵金属检测领域中，不管是轻元素还是重元素分析，X-7600SDD LE与其他分析仪器相比都具有更加卓越的检测性能。这是研究与开发领域中zei理想的系统。
X-7600SDD LE 提高了轻元素检测的精度，例如：F、Ne、Na
X-7600SDD LE，使用先进的SDD探测器，具有低电子噪音和高计数率的特点，与 Si-Li 探测器（液氮冷却）相比具有更高的分辨率，能更快的得到检测结果。
8个二次靶为快速精确的定量分析提供了zei大的灵敏度，即使是是在一些复杂的基质中，例如：合金、塑料和地质样品。可定制的靶为了达到ppb级的检测极限。
X-7600 LE 能检测液体、固体、浆状、粉末状，片状样品，样品室能容纳不同形状和尺寸的样品。
F(9) - U(92) ——使用极薄的高分子聚合物探测窗
ppb - 100%
Rh – 阳极标准 (mo, W, ag, cr 可选).
60kV, 400W. 10-5000µa (in 1µa increments).
直接激发或二次靶激发
室温条件下精确到0.1%
高分辨率硅漂移探测器（SDD），极薄的高分子聚合物探测窗，热电冷却，避免使用液氮冷却
能在1.6us的峰优化操作时间内达到123ev的zei佳分辨率，出色的结果可以通过大范围的输入计数率
传送，在更短的峰操作时间内，高计数率能被处理。
10 个位置 (18 个位置可选).
空气/真空/ 氦气.
8款软件可选.
8款软件可选: Zr, Si, ti, fe, Ge, mo, Sn, Gd.
115 Vac /60 Hz 或 230 Vac /50 Hz.
多信道分析
专利广角几何（WAG）
未包装 85 x 85 x 105, 含包装 145 x 95 x 135.
150kg (净重), 200kg (总重).
直径28cm, H=5cm.
集成计算机
nEXt， 运行在Windows XP下的数据采集及分析软件包外加初级基本参数算法。
样品激发，探测，样品操控，数据采集及处理的自动控制。
逃逸峰及背底的自动去除，自动重叠峰解析，图解式统计报告。
考虑共存元素效应的多元素回归法（六种模式）。总计数，净计数拟合及数字滤波器法。
用户可自定的数据报表及打印形式
１８样品的旋转式自动给样系统，样品旋转机制，专业的基本参数算法。
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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
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