JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统

发布时间：2022年07月

JKZC-YDZK03AN压电阻抗综合测试系统

关键词：压电系数，阻抗，显微镜，高低温

    JKZC-YDZK03N压电阻抗综合测试系统是一款多用途的综合测试系统，即可用于纵向压电D33测试，竖向D15,横向D31等性能测试，配置了高低温冷热台，进行变温测试，配置显微镜进行微观观测，也可以用于用于用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试，是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的超值解决方案，可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性,正反谐振阻抗及压电材料的电容等相关系数，是研究压电材料和阻抗分析的综合设备，是科研的重要辅助设备。

一、产品应用范围：

1.压电材料器件科学研究

2.压电材料的用于评定压电陶瓷片性能优劣

3.压电材料阻抗分析

4.其他介质材料： 塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估

磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估

半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

液晶单元：介电常数、弹性常数等C-V特性

5.  导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性

半导体元件：LED驱动集成电路寄生参数测试分析；变容二极管的C-VDC特性； 晶体管或集成电路的寄生参数分析

二、主要技术参数：

频率：10HZ-30MHZ

测试电平：AC: AC电压:5mV - 2Vrms ,分辨率：1mV, DC：±40V，分辨率：1mV

测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc

显微镜：630万像素，偏光观察模式

薄膜平台：30*30MM样品台,探针连接

×1挡：10到2000pC/N，20 至4000pC/N，可以升级到10000PC/N.

×0.1挡： 1到200pC/N，2 至400pC/N。

可以配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用

可以配套ZJ-D33-YP15压电压片机使用

误差：×1挡：±2%±1个数字，当d33在100到4000pC/N；

计量标定标准样尺寸：18mm*0.8mm，老化时间：2-3年（评判压电测试仪准确性能的重要依据之一）

提供压电薄膜标准片：20*20MM

电压保护：独有的放电保护功能 

±5%±1个数字，当d33在10到200pC/N；

×0.1挡：±2%±1个数字，(当d33在10到200pC/N)

±5%±1个数字，当d33在10到20pC/N。

分辨率：   ×1挡：1 pC/N；×0.1挡：0.1 pC/N。

尺寸：施力装置：Φ110×140mm；仪器本体：240×200×80mm。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途