西凡镀层测厚仪XF-P3

XF-P3镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器、PCB等行业。该产品使用进口定制Fast SDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，可支持10层检测，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

西凡镀层测厚仪XF-P3产品特点

元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)          

可支持十层检测

可同时支持镀层厚度和成分检测

检出限：2nm(厚度)，2ppm(成分)

检测精度：相对误差±1.5%(1um厚度）

±0.01%(99.9%)

定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。

三准直器,多滤光片自动切换

XY平面微动平台，行程：30mm×30mm

铅玻璃窗口，方便观察样品

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途