布鲁克 QUANTAX 能谱仪

XFlash 6-30 结合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固体角度®活动区域芯片。这使得探测器对希望在EDS应用的整个谱图中使用探测器的分析中非常有吸引力，从轻元素分析到快速面扫描Mapping，以及EDS和EBSD测量的结合。XFlash 6-30 一定会提供快速的结果。®

总之，XFlash 6-30 具有以下优点：®

• XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®

• 其他可用分辨率为 Mn K® 的 126 eV 和 129 eV

• 极高的脉冲处理能力

• 出色的轻元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范围）

• 空气冷却，不会因为其他冷却系统而产生震动

• 电源打开后立即可用

• 运营成本低

• 免维护操作

• 小尺寸，包括 slim-line technology finger

• 重量低

XFlash 6-30 的推荐应用领域包括：®

• 用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选项使用）

• 将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash  FS 相结合

• 快速元素面扫描

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途