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膜厚测试仪

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参考报价: 面议 型号: MProbe
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 40 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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MProbe 薄 膜 测 量 系 统

M p r o b e 让 你 成 为 测 量 专 家 !

大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量:

    氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。

厚度范围: 1 nm-1 mm
波长范围: 200nm -5000nm

在薄膜太阳能电池中的应用:

    aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe-全太阳能堆栈测量

LCD, FPD应用:

   
ITO, 细胞间隙,聚酰胺。

光学涂层:
   
    介质滤波器,硬涂层,防反射涂层半导体和电解质: 氧化物,氮化物, OLED堆。

实时测量和分析。各种多层次的, 高强度的,厚的, 独立和不均匀的层 。

丰富的材料库 (500多种材料) – 新材料容易增添。

支持参数化材料:

    Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等⋯

使用灵活: 

    可联网在操作台桌面或现场进行研究与开发。用TCP或Modbus接口能容易的和外部系统连接。

测量参数:

    厚度、光学常数、表面粗糙度。

界面友好强大:

    测量和分析设置简单。背景和缩放修正,连接层和材料。






 
离线数据分析:

    仿真和灵敏度分析,多样品测量,生产批量处理。

 
 
 


MProbe系统示意图

精度 0.01nm or 0.01%
精确度 0.2% or 1 nm
稳定性 0.02nm or 0.03%
光斑尺寸 标准为 3mm , 可以小到 3μm
样本大小 从 1mm 起
 

主要参数

模型 波长 范围光谱仪探测器/检测器/光源 厚度范围 *
VIS 400-1100 nm 分光仪 F4/Si 3600像素点/
钨-卤素光源
15 nm to 20 mm
(option:up to 50 mm)
UVVisSR 200-1100 nm 分光仪 F4/ Si CCD 3600
像素点/氘-钨卤组合式光源
3 nm to 20 mm
(option:up to 50 mm)
HRVIS 700-1000 nm HR分光仪F4/Si 3600 像素点/
钨-卤素光源
1 mm to 400 mm
NIR 900-1700nm 传输光谱仪(TVG)
F2/512 InGaAs/钨-卤素光源
100 nm-200 mm
VISNIR 400-1700 nm 分光仪 F4 Si CCD 3600 像素点
(Vischannel);传输光谱仪(TVG)
F2/512 InGaAs
PDA( NIR channel) 钨-卤素光源
15 nm to 200 mm
UVVISNIR 200 -1700 nm 分光仪F4 Si CCD 3600
像素点(Vis频道);传输
氘-钨卤组合式光源
3 nm -200 mm
NIRScan 900nm -5000nm 扫描分光计/InGaAs/
MCT 探测器 (扫描时间 <60 秒 )
TH-SiN光源
100 nm -800 mm
XT XT 1590nm -1650nm 传输光谱仪 (TVG)
F2/512 InGaAs/钨 -卤素光源
10 mm- 1 mm

* T, n & k 测量的厚度范围为25nm – 5um
其他配置也是可以做到,欢迎原始设备制造商咨询和定制开发项目。
对所有系统中的配件有一年的质量保证。










膜厚测试仪信息由广州市固润光电科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于膜厚测试仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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