快速扫描测量系统

快速扫描测量系统整合了TSL 可调谐激光器、MPM 光功率计、PCU 偏振控制器及根据用户需求自定义的软件，为R&D 及生产环境的IL、WDL、PDL 测试提供快速、多功能、全自动的平台。系统同时采集可调谐光源的输出功率及DUT 透过的光功率作实时参比，获取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩阵方法）。

性能优势

• 实时功率参考：高精度的WDL/PDL 测试

- 功率可重复性<±0.02dB

- PDL 可重复性＜ ±0.01dB

• 缩放运算：高波长精度/ 节省测量时间

• 支持多通道测量

• 支持图形介面软件及编程接口（DLL）

主要应用

• 器件和模块光学特性测试：

- 可调谐滤波器，插入器，FBG，

耦合器，分光器，隔离器，开关 .....

- WSS 及波长阻断器

- DWDM 器件

• 硅光子材料表征，包括微腔环形谐振器

• 光谱

• 干涉测量

配置

多站测试

多站测试中，TSL、PCU与MCU 构成一个服务中心，分发触发信号及光束到不同的测试站。每个测试站包括功率计和客户端PC。在运行过程中，TS持续的扫频，使得每个测试站可以独立而并行地工作。多站测试架构极大提升了高精度测量与分析的效率。

测试示例

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途