HP-CHY-L镀铝膜测厚仪

所属分类：造纸、印刷、包装试验机

HP-CHY-L镀铝膜测厚仪

HP-CHY-L镀铝膜测厚仪适用于各种镀铝膜铝层厚度的检测，包括食品烟草软包装铝膜、涡流镀层、蒸发铝膜、微薄金属膜、硅片蒸铝层、 声表面波铝膜、 半导体铝膜、 车灯铝膜、塑料薄膜铝膜等，配置大屏液晶，触摸屏操作，该机性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，现已升为触摸屏操作。食品行业镀铝层一般为200-500埃之间。

工作原理:

铝膜测试仪利用涡流原理制造，即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时，感应产生涡电流，因而产生涡流磁场，此涡流磁场反作用于原来激磁磁场，阻抗发生变化，然后通过检测电路并进行放大，输出与厚度相对应模拟电压。为了减少漂移即减少重复性误差和提高测量准确度，本仪器应用智能功能单片机系统，即对测厚过程中非线性和零漂进行校正，因而提高了测量准确度。1 微米(μm) = 1 000 纳米(nm) = 10000埃

技术参数：

可测量范围： 测量直径不小于100㎜×200㎜

量程范围: 0-1000埃

分辨率: 1埃

测量准确度: ≤±2%(F.S)

显示单位：埃和方块电阻可切换显示。

仪器尺寸 ：400x320 x 120 mm
重    量  ：7公斤
镀铝膜测厚仪配置：
镀铝膜测厚仪壹台，校正片一片，电缆线一根。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途