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西安天光测控技术有限公司
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| 参考报价： | 面议 | 型号： | PCT3000 |
| 品牌： | 天光测控 | 产地： | 西安 |
| 关注度： | 22 | 信息完整度： |  |
| 样本： | 典型用户： | 暂无 | |
| 供应商性质 | 生产商 | 产地类别 | 国产 |
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PCT3000半导体热特性试验系统能够准确描述和量化所有半导体器件在热量积累过程中的老化和降级，对于目前被封装可靠性问题所困扰的开发人员而言，它对开发高性价比封装解决方案有很大帮助。对于研究所有类型功率模块中散热路径的退化是非常有用的工具。
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