XU-100 X荧光光谱测厚仪

高精尖检测技术，搞定企业品质管控！

XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

应用行业：

电镀层分析

紧固件行业

五金行业

汽车零部件

配饰厚度分析

电子元器件

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常见样品：

紧固件
ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe

五金制品
Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe

电子元器件
Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu


汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS


配饰首饰
Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu

散热片NiP/Al

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为什么选择XU-100？

1.下照式设计


可以快速方便地定位对焦样品。


2.高精密微型移动滑轨

快速精准定位样品。

3.
微焦X射线装置


最小检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。


高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。

4.
变焦装置算法


可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。


5.先进的EFP算法


多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。


最小检测面积可达0.01mm²

凹槽深度范围0-30mm
移动精度10μm
最近测距光斑扩散度10%

XU-100镀层测厚仪信息由深圳乔邦仪器有限公司为您提供，如您想了解更多关于XU-100镀层测厚仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途