【技术特点】-- 光致发光影像系统--Helios

特点：
  1.       线上监控或线下分析都适用
  2.       采用InGaAs探头提升测量灵敏度，减少检测时间
  3.       采用高灵敏光学成像技术，每片晶圆测试时间<1s
  4.       鉴别并预防低质量材料进入高损耗工序，降低成本
  5.       采用简单明了的图形界面和是非判定
  6.       相比于其他同类PL系统更具性价比

【技术特点对用户带来的好处】-- 光致发光影像系统--Helios

【典型应用举例】-- 光致发光影像系统--Helios