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瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 R CdTe

tel: 400-6699-117 1000

DECTRISX射线探测装置, EIGER2 R CdTe X射线探测器将混合像素光子计数探测器的新发展和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。对于使用......

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技术参数:


型号

EIGER2 RCdTe 500K

EIGER2 R CdTe 1M

EIGER2 R CdTe 4M

EIGER2 R CdTe 2M-W

EIGER2 XE CdTe 1M-W

有效面积:宽x高 [mm2]

77.1 X 38.4

77.1 x 79.7

155.1 x 162.2

311.1 x 38.4

155.1 x 38.4

像素大小 [μm2]

75 x 75

总像素数量

1028x512

1028 x 1062

2068 x 2162

4148 x 512

2068 x 512

最大帧频* [Hz]

100

100

20

50

100

计数器深度 [ bit ]

16

16

16

16

16

读出时间

连续读数

点扩散函数

1 pixel

传感器材料

CdTe

传感器厚度 [μm]

750

能量范围 [keV]

8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration)

计数率 [ph/s/pixel]

5.5 x 106

尺寸(WHD)[mm3]

114 x 133 x 242

235 x 237 x 372

340 x 370 x 500

400 x 430 x 500

340 x 370 x 500

重量 [kg]

3.7

4.7

15

9.7

5.8

冷却方式

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

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