技术特点
【技术特点】-- 一六 XAU专业性能型膜厚仪
全面升级下照式探测器款,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。
高性能探测器:搭配高性能探测器,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定
变焦装置及
位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm
自主研发EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精确测量
高集成光路系统:搭配微聚焦一体的高集成垂直光路交换装置
先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限
XAU广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域
【技术特点对用户带来的好处】-- 一六 XAU专业性能型膜厚仪
【典型应用举例】-- 一六 XAU专业性能型膜厚仪
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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