X射线荧光镀膜厚度测量仪

技术参数：

可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)
 
 X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
 
 滤波器：一次滤波器：Al 二次滤波器：Co 数字滤波器
 
 检测器：比例计数管
 
 准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm 
                 圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、仪器自动诊断功能

样品图像对焦方式：激光自动对焦

样品观察：彩色CCD摄像头
 
 样品平台大小及承重：240mm(W) ×170mm(D) 10kg 
                                           
 重量：125kg (不含电脑) 
             
 修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
 
 测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 
                                   测量能谱与样品图像保存功能